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XARION激光超声精密检测系统

XARION激光超声精密检测系统

 


奥地利XARION Laser Acoustics GmbH公司开发了一种非接触式光学麦克风,适用于过程监测和无损检测领域。XARION光学麦克风具有非接触和宽测量频率范围等优点,特别适合环境要求严苛、传统传感器无法胜任的应用场合。

与传统麦克风相比,XARION光学麦克风不包含机械可移动或物理可变形的部件。XARION传感器具有更宽的频率带宽,且不受机械共振的影响。XARION新颖的声学传感器适用于空气耦合的无损检测和无接触过程控制。能以更强大,更可靠的方式监视来自各种制造过程的超声辐射。结合激光激励源,光学麦克风解决了无损检测问题,包括以最高的精度对金属焊接点进行非接触式质量控制。

 

XARION激光超声精密检测系统技术特色

 

XARION激光超声精密检测系统产品组成
XARION 检测系统(High-Frequency Measurement System, HF-MES)包含的几个主要组件:光学麦克风(OM)、前置放大器(Pre-Amp)、A/D转换器(ADCs)和现场可编程门阵列(FPGA)。这个系统用于实时频谱分析,可以提供高达33000个频谱/秒的采样速度。

 

XARION激光超声精密检测系统核心产品系列:
XARION激光超声包括精密检测系统核心产品系列主要包括激光超声精准过程监测系统Process Monitoring和激光超声精密无损检测系统Non-Destructive Testing.

 

 

 

 

 

 

XARION激光超声精密检测系统型号及规格
 

 

 

 

XARION激光超声精密检测实验室系统:LEAsys

 

LEAsys 是针对从事复合材料、金属及粘接接头无损检测的研发实验室或研究机构的完美工具。该集成扫描解决方案将创新的 LEA 技术与高分辨率 x-y 扫描器以及实时数据分析软件相结合,无需使用水或耦合凝胶即可实现非接触式的高分辨率扫描。

 

硬件特性:

1. 激励激光器:提供多种脉冲重复频率选择,包括100 Hz、400 Hz或10,000 Hz,并支持热声激励模式。

2. 探测器:采用Eta450 Ultra光学麦克风,具有2 MHz的带宽。

3. 最小步进尺寸:可达10μm。

4. 扫描范围:有两种规格,分别为530 x 500mm和530 x 1000mm。

5. 数据采集系统:具备14位分辨率及50 MHz采样率。

 

软件特性:

1. 图形用户界面:用于设备控制与数据分析。

2. 实时显示功能:能够实时展示A扫描、B扫描和C扫描结果。

3. 软件层面上最小步进尺寸同样为10μm。

4. 快速傅里叶变换功能:实现频域分析。

5. 频谱分析功能:对信号进行频率成分深入分析。

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